爐前快速碳硅分析儀

                             爐前快速碳硅分析儀
爐前快速碳硅分析儀

    爐前快速碳硅分析儀能夠檢測分析鋼鐵中的碳、硅等元素的含量，而這些元素在鋼鐵中的含量對鋼鐵的質量和性能有著重要的影響，因此爐前分析十分關鍵。

    用光譜儀進行元素分析時，當某一元素的譜線用來測量含量，其附近有一條譜線影響時，干擾校準是必須的。如果光譜儀分辨率不能消除這條線的影響，則它將受到“干擾”，即元素的譜線，測量含量顯著增加，原因是存在一個疊加光強值。下面介紹下元素干擾的預防。

    由于存在譜線的重疊現象，光譜儀生產廠家在制造選擇譜線時盡量避開有干擾的元素，消除或減少這種干擾。

    元素干擾的預防方法有以下兩種：

    1、在待測材料中選擇不受干擾的譜線。例如，測量低含量鋁時，可選擇兩條靈敏線，Al線394.4nm和396.1nm。其中396.1nm比較靈敏，但受Mo的干擾。因此，往往選擇Al394.40nm用來測量鋼鐵中低含量的Al。一般光譜儀生產廠家都是根據基體材質的情況選擇合適的譜線。

    2、用分辨率較大的光譜儀。一般長焦距儀器可具有更大的分辨率，對同一級光譜儀來講，一臺3m的光譜儀分辨率比1m光譜儀更大，但3m或2m光譜的焦距比1m光譜儀更大。這樣，產生的問題是占據較大的空間，光學系統不夠穩定，到達光電倍增管的光強也弱。為了克服這些問題選用衍射光柵的二級譜線。二級譜線的分辨率是一級光譜的兩倍。例如入射狹縫為25µm，出射狹縫寬度為88µm，其一級光譜的分辨率為0.0375nm，其二級光譜為0.0188nm。若入射狹縫寬度為10µm，其二級光譜的分辨率為0.0058nm。

    一般來講隨著光譜的級數增加，能量逐漸降低。在不是閃耀區域，二級譜線的強度，只是一級光譜強度的0.25倍。選用刻線為1440條/mm凹面光柵這是光譜波長范圍和分辨率的主要因素。光譜儀包括了全部待測元素靈敏的波長。一級譜線波長范圍346.0-767.0nm，其中包括Na、Li、K的靈敏線。并在光學設計上沒有附加光路，波長愈長，干擾愈小。二級光譜波長范圍是173.0-383.5nm，包括P、S、B等元素在其區域的靈敏線。此區域有發射光譜較佳的譜線和較好的分辨率。

     ，以上為光譜分析中元素干擾及預防干擾的相關介紹，做好這些工作，對于提高光譜分析的準確度具有重要意義。